近赤外の撮像について

近赤外光では肉眼では判別出来ない類似した物質でも違いを見分けることが可能な場合があります。

以下はシリコンCMOSセンサの代表的な量子効率のグラフです。
可視光を超えたNIR領域に入ると量子効率は20%を下回り、SWIR領域では10%以下まで落ち込み1100nmに到達するまでに完全に光を捉える事が出来なくなります。


このため一般的なCMOSセンサー強力な照明を用意して初めて近赤外領域を撮像する事が可能で、照明を使用出来ない環境では撮像を行う事が難しくなります。
さらに近赤外領域のみを撮像したい場合には、可視光カットフィルターを追加する必要があるため、さらに光量が落ちるという問題も抱えています。

このような場合、InGaAsセンサーを搭載したSWIRカメラを使用するのが一般的です。

最新のSony SenSWIR InGaAsセンサーは以下の量子効率グラフのように400～1700 nm (可視光～SWIR)の広い波長帯に感度を持ち、カメラ1台で可視光と非可視光 (SWIR)の撮像が可能です。
SWIRカメラは可視光カメラのように高画素ではありませんが、可視光だけでは検出できなかった検査が可能となります。

ただし、これは相対感度グラフのため、微弱光の観察等でより高い感度を必要としている場合には、理化学向けのSWIRカメラを使用することを検討する必要があります。

また、色・波長毎に分けて観察・分析したい場合には、プリズムカメラやハイパースペクトルカメラが最適です。

Sony SenSWIR搭載カメラをお探しの場合は下記ページをご参照下さい。
SWIRシリーズ – 近赤外 –

理化学向けSWIRカメラをお探しの場合は下記ページをご参照下さい。
近赤外・中赤外・遠赤外線カメラ　エリア・ライン

プリズムカメラ・ハイパースペクトルカメラをお探しの場合は下記ページをご参照下さい。
分光・ハイパースペクトル