In-situ リフトアウト - AD SCIENCE －株式会社アド・サイエンス

透過型電子顕微鏡（TEM）では、試料作製が必須の条件となります。
電子透過ラメラを作製するための集束イオンビーム（FIB）ワークステーションの登場は、TEMの試料作製に革命をもたらしました。
最先端の分析ツールと高精度のナノマニピュレーションシステムを組み合わせることで、より速く、より正確に、より再現性と信頼性の高い試料作製技術を得ることができます。

イメージ

ラメラをグリッパーアームの間に配置	ラメラを保持する

TEMグリッドを視野に入れる	ラメラをTEMグリッドに接着

ラメラを離す

SemGluでTEMグリッドに貼り付けられたラメラ	SemGluを硬化させた後のTEMグリッド上のラメラ

紹介動画

[Using iLO to control the LiftOut Shuttle]

[TEM sample prep in 3D]

[TEM Sample LiftOut inside a SEM/FIB using SemGlu and the LifOut Shuttle]

[Three TEM lamella liftouts in twelve minutes]

[LiftOut Shuttle: LOS+ and TEM-sample clipholders]

Kleindiek社＜マイクロマニピュレータ・サブステージ＞

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