X-SCAN 社

  X-Scan Imaging社（米国）は、高性能CMOSリニアダイオードアレイ（LDA）、CMOS＆CCD時間遅延積分（TDI）検出器、可視および放射線画像アプリケーション用ラインスキャンカメラシステムのメーカーです。
  TDIは、スキャン速度や検査時間を犠牲にする事なく、従来のLDAシステムよりも露光時間を長くする事ができる確立された効果的なスキャン技術です。またTDIは、高エネルギーX線・ガンマ線・中性子線のイメージングアプリケーションで使用される場合、特に優れた効果を発揮します。

  X-Scanのユニークなデバイス構造と遮蔽設計は、自動製品品質検査、非破壊検査（NDT）、コンピュータ断層撮影（CT）など、ラボやオンラインの幅広い生産・検査環境において信頼できる高速X線イメージングと長い動作寿命をユーザーに提供します。その他のアプリケーションとしては、プリント基板検査、溶接検査、自動車ホイール・タイヤ検査、食品・医薬品検査、貴金属・通貨検査、貨物検査などがあります。