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SEMで高速に3D情報を得たいと思ったことはありませんか? |
イメージ
![]() 半導体構造を示すSEM像にAFM像を重ねたもの ![]() 校正用試料のAFM像 ![]() 2種類の校正用試料の3D画像 ![]() スパッタリングされたシリコン上の金のAFM像とSEM像の比較 ![]() MEMS構造体のAFM像とSEM像の比較 |
紹介動画
[SuperFlat insitu AFM - imaging a calibration sample] [SuperFlat insitu AFM - imaging ZrO spheres] [SuperFlat insitu AFM - imaging a solar cell] [SuperFlat Atomic Force Microscope - combining AFM with SEM] |
Kleindiek社 <マイクロマニピュレータ・サブステージ>
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